Workshop pratico sul test Boundary Scan abbinato al test funzionale

XJTAG e IPSES, con National Instruments, terranno mercoledì 6 aprile un workshop pratico gratuito di un giorno sul test boundary scan integrato al test funzionale. Il workshop si terrà presso la sede di National Instruments, Centro Direzionale Milanofiori Nord, Assago, Milano.

L’evento si focalizzerà sull’uso combinato di JTAG/boundary scan e test funzionale in un’unica stazione di test, mostrando come l’integrazione porti a notevoli e concreti vantaggi, aumentando l’affidabilità e l’efficacia del test e riducendone i costi.

Il seminario pratico, partendo da un’introduzione allo standard JTAG/IEEE 1149.x, mostrerà come unire boundary scan XJTAG e test funzionale all’interno delle piattaforme hardware di National Instruments, per arrivare a una piena integrazione anche dal punto di vista dell’interfaccia utente.

JTAG/Boundary Scan è una tecnologia estremamente affidabile, progettata per far fronte ai problemi legati all’accesso fisico di componenti complessi su schede elettroniche di densità medio-alta. La sua integrazione con altre metodologie di test consente di coprire vicendevolmente le aree in cui ogni tecnica può essere carente, rendendo il test ancora più sicuro.

In particolare, la sua combinazione con il test funzionale è estremamente efficace, perché consente praticamente la totale copertura delle esigenze di test del DUT, con una più veloce e accurata diagnosi degli scarti e una verifica sia dei suoi componenti e del loro montaggio, sia delle sue funzioni.

Le piattaforme PXI consentono una facile e veloce integrazione dell’hardware necessario per avere una stazione di test unica e le sequenze di test Boundary Scan e funzionale non solo possono essere eseguite in parallelo, ma si possono far interagire tra loro, con un incremento dell’efficacia del test più elevata della somma dei due e con un notevole risparmio di tempo.

Per maggiori informazioni e per iscriversi all’evento: info@ipses.com

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