Il test Boundary Scan integrato al test funzionale

IPSES, in collaborazione con National Instruments Italy e XJTAG, organizza un seminario pratico sul test funzionale abbinato al Boundary Scan.

Il workshop, gratuito e a numero chiuso, permette di valutare come le due metodologie di testing possano essere combinate e integrate, migliorando la copertura e l’affidabilità del test di fine produzione, rispetto a un approccio separato.

Unire il test funzionale e il test Boundary Scan su un unico sistema porta numerosi e notevoli benefici. La loro combinazione consente di coprire le aree in cui ciascuno è carente, e il loro uso integrato aumenta l’affidabilità e l’efficacia del test.

Un approccio integrato consente di ridurre notevolmente i costi e i tempi per effettuare i test, e ottenere la diagnostica dei guasti più accurata e con una reportistica unica.

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