Workshop sul test Boundary Scan

XJTAG e il suo partner tecnologico IPSES terranno il 23 giugno un workshop gratuito di un giorno sulla tecnologia di testing boundary scan che si svolgerà presso il Politecnico di Milano – campus di Bovisa, Dipartimento di Energetica di via Lambruschini 4a.

Questo evento si inserisce nella serie di seminari e workshop che XJTAG, durante il 2015, sta organizzando in tutto il mondo sulla tecnologia Boundary Scan.

Il Boundary scan JTAG è una tecnologia estremamente affidabile progettata per far fronte ai problemi legati all’accesso fisico di componenti complessi su schede elettroniche di densità medio-alta. Conforme allo standard IEEE 1149.x, esso integra una circuiteria di test all’interno dei chip in grado di rendere disponibile un protocollo di collaudo digitale completo a livello di scheda.

Le applicazioni tipicamente associate al JTAG sono i test di interconnesione e la programmazione in system. Tuttavia tale tecnologia offre molto di più: l’utilizzo di XJTAG, infatti, accelera in maniera significativa la progettazione di schede elettroniche, migliorando il test non solo in produzione, dove offre un’eccellente copertura nella validazione finale, ma anche durante tutte le fasi di sviluppo e il debug della scheda, permettendo una precoce diagnostica di problemi.

Il seminario pratico permetterà di conoscere le funzionalità della metodologia di testing, valutandone l’efficacia sia durante la progettazione di schede elettroniche, sia durante la produzione.

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