Il test Boundary Scan integrato al test funzionale
Organizzatore: | IPSES |
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Per informazioni: | www.ipses.com |
Indirizzo email: | info@ipses.com |
Luogo: | National Instruments Italy, ctr dir Milanofiori Nord, via del Bosco Rinnovato 8, pal U4, 20090 Assago (MI) |
Telefono: | |
Data Inizio: | 18/06/2014 |
Data Fine: | 18/06/2014 |
IPSES, in collaborazione con National Instruments Italy e XJTAG, organizza un seminario pratico sul test funzionale abbinato al Boundary Scan.
Il workshop, gratuito e a numero chiuso, permette di valutare come le due metodologie di testing possano essere combinate e integrate, migliorando la copertura e l’affidabilità del test di fine produzione, rispetto a un approccio separato.
Unire il test funzionale e il test Boundary Scan su un unico sistema porta numerosi e notevoli benefici. La loro combinazione consente di coprire le aree in cui ciascuno è carente, e il loro uso integrato aumenta l’affidabilità e l’efficacia del test.
Un approccio integrato consente di ridurre notevolmente i costi e i tempi per effettuare i test, e ottenere la diagnostica dei guasti più accurata e con una reportistica unica.