Disponibile la versione 8.2 del software KTEI

Dalla rivista:
Elettronica Oggi

 
Pubblicato il 23 novembre 2011

Numerosi sono i miglioramenti introdotti da Keithley Instruments con la nuova versione del software KTEI (Keithley Test Environment Interactive) fornita in dotazione al proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200-SCS (Semiconductor Characterization System). La release 8.2 comprende nuove librerie di test per memorie non volatili (NVM) e progetti campione per le tecnologie di memoria emergenti.

Essa supporta inoltre l’esecuzione di misure C-V (capacità-tensione) a frequenze molto basse, utili per la caratterizzazione di prodotti come dispositivi elettronici polimerici, LED organici (OLED) e display basati sulla stessa tecnologia. Grazie a KTEI 8.2, sono inoltre possibili configurazioni del sistema 4200-SCS con un maggior numero di moduli di collaudo I-V (corrente-tensione) operanti ad altissima velocità così da permettere di collaudare più dispositivi in parallelo, con benefici in termini di incremento del throughput e di riduzione del time to market.

Librerie di collaudo per memorie non volatili
Le nuove librerie per memorie non volatili (NVM) integrate in KTEI V8.2 permettono di effettuare il collaudo di tutte le tipologie di memorie non volatili, comprese memorie flash, memorie a cambiamento di fase (PRAM e PC-RAM), memorie di tipo resistivo (RRAM o ReRAM) e memorie magnetoresistive (MRAM). La disponibilità di progetti campione per ogni tipo di NVM assicura ai ricercatori la flessibilità necessaria per impostare ed effettuare i collaudi in tempi rapidi, così come per analizzare i dati.

Le librerie di test sono state concepite per sfruttare le potenzialità di due opzioni hardware disponibili per il mod. 4200-SCS: il mod. 4225-PMU I-V ad alta velocità e il commutatore/amplificatore remoto mod. 4225-RPM. Insieme, i nuovi moduli consentono di erogare impulsi ad alta velocità con la massima precisione, nonché di effettuare misure accurate dei segnali transitori generati durante il collaudo.

Misure C-V a frequenze molto basse
KTEI 8.2 sfrutta una nuova tecnica, in attesa di brevetto, per effettuare misure di capacità e di tensione a frequenza molto bassa (VLF C-V) con la SMU in continua del sistema e il pre-amplificatore remoto a bassa corrente che consente di misurare la capacità del dispositivo e la resistenza a frequenza che vanno da 10 Hz a 10 MHz. La nuova metodologia va a complementare le funzionalità di misura di capacità ad alte frequenze (da 1 kHz a 10 MHz) del mod. 4210-CVU.

Supporto esteso per hardware I-V ad altissima velocità
Il sistema 4200-SCS è in grado di supportare un massimo di sei moduli mod. 4225-PMU all’interno dello chassis a nove slot. Ogni modulo rende disponibile due canali di erogazione di impulsi di tensione (con ampiezza dell’impulso che spazia da 60 ns alla continua) e permette di effettuare misure di tensione e corrente simultanee a una velocità di acquisizione massima di 200 MS/s (MegaSample/s). È quindi possibile configurare un sistema con un massimo di 12 canali I-V ad altissima velocità che operano contemporaneamente.

Grazie all’aumento del numero di moduli mod. 4225-PMU che il mod. 4200-SCS è in grado di supportare, KTEI 8.2 permette di caratterizzare un maggior numero di dispositivi mediante il collaudo in parallelo. L’elevato livello di parallelismo in fase di test può essere sfruttato per il collaudo NBTI (Negative Bias Temperature Instability), così come per altri tipi di test relativi all’affidabilità del dispositivo e per il collaudo di più DUT NVM.

A cura della redazione



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