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T&M 6G Beam forming e management Quando si passa alla tecnologia sub THz utilizzando enormi array di antenne, il beam forming e beam ma- nagement sono fondamentali. I beam direzionali ad alta potenza generati da più trasmettitori possono aiutare a compensare la perdita per attenuazione producen- do un’uscita più elevata di un singolo trasmettitore, ma questa potenza combinata deve essere trasformata in un beam più potente, stretto e ad alto guadagno in grado di raggiungere il ricevitore. Un beam forming ottimale può garantire un’elevata gamma dinamica e un’elevata flessibilità a costi e livel- li di consumo energetico ragionevoli, ma i collegamenti per comunicazione a frequenza più elevata devono es- sere protetti da qualsiasi dispersione e diffrazione del segnale. Una gestione efficace dei beam garantisce che questi narrow beam possano essere allineati e mantenu- ti mentre gli utenti si muovono nella rete. Attualmente, la gestione dei beam 5G utilizza un sistema di segnali di riferimento e misurazioni delle apparecchiature utente (UE) e può comportare costi generali sostanziali in ter- mini di capacità del canale. Se vogliamo andare incontro al 6G in modo efficace, sono necessarie ulteriori ricerche per sviluppare una tecnologia di gestione più avanzata dei beam. Nelle comunicazioni wireless, che utilizzano frequenze più elevate nelle bande sub Terahertz, ci sono sfide anche nel garantire misurazioni accurate, il che significa che le prestazioni in radiofrequenza (RF) delle apparecchiature di prova devono essere a un livello estremamente elevato. Man mano che vengono sviluppati nuovi composti e pro- cessi a semiconduttore, i wafer a semiconduttore devono essere caratterizzati per garantire che il comportamen- to del dispositivo possa essere alimentato con precisio- ne nelle simulazioni e negli strumenti di progettazione. L’affidabilità di queste misurazioni è essenziale per una buona progettazione e modellazione del comportamento degli strumenti durante la progettazione di dispositivi in banda sub Terahertz. L’ultima generazione di analizza- tori di reti vettoriali (VNA) è in grado di offrire il più alto livello di sicurezza della misura con la loro capacità di ca- ratterizzare da 70 KHz a 220 GHz in un singolo sweep. Le nuove architetture VNA a banda larga sono attualmente in fase di studio, così come la nuova tecnologia di analisi dello spettro a 300 GHz, per garantire i migliori rapporti costo/prestazione in queste bande di frequenza più ele- vate e ambienti di test con larghezza di banda più elevata. Quando si passa alla tecnologia sub THz utilizzando enormi array di antenne, il beam forming e beam management sono fonda- mentali ELETTRONICA OGGI 518 - MAGGIO 2024 64