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ELETTRONICA OGGI 497 - OTTOBRE 2021 39 DIGITAL NAND STORAGE ed elevate prestazioni. Questo significa che è possibile fornire un’enorme capacità di archiviazione di dati in un dispositivo di piccole dimensioni, mentre l’utente può beneficiare di un rapido accesso ai dati memorizzati e della possibilità di effettuare operazioni di archiviazione dei dati molto veloci. Queste caratteristiche sono importanti anche per le Case automobilistiche. Ma le applicazioni di questo tipo impongono requisiti speciali che sollevano importanti quesiti aggiuntivi sulla scelta dei produttori di dispositivi NAND, tra cui: Prestazioni – in applicazioni come l’assistenza alla guida e la navigazione, la latenza è un aspetto estremamente importante. Le Case automobilistiche richiedono notevoli velocità di lettura e scrittura e un elevato throughput dei dati. Integrità dei dati – ogni operazione di lettura e scrittura comporta il rischio di generare errori di bit, che possono portare alla perdita o al deterioramento dei dati. L’affidabilità è un fattore critico nel mercato automobilistico e in un dispositivo di storage l’integrità dei dati è un importante indicatore di affidabilità. Data retention (capacità di mantenere inalterati i dati) – a differenza di un dispositivo consumer come un telefono cellulare, un veicolo deve avere una durata operativa di almeno dieci anni. I produttori automobilistici vogliono essere certi che il dispositivo di memorizzazione NAND scelto conserverà (inalterati) i dati per tutto il ciclo di vita del veicolo. Nei veicoli, l’affidabilità a lungo termine e la durata di un componente elettronico come un dispositivo di storage di massa sono fattori fondamentali. L’industria automobilistica impone test di qualifica molto severi, secondo lo standard AEC-Q100, per i circuiti integrati impiegati nelle ECU (Electronic Control Unit) automobilistiche, con l’obiettivo di garantire l’assenza di difetti (zero-defects) per una durata di vita più lunga a temperature di 85 °C (o superiori). L’obiettivo di ridurre a zero il tasso di difetti dei componenti è importante a causa della lunga durata di un veicolo, dell’elevato numero di componenti in un veicolo e dell’enorme costo di riparare un guasto in una flotta di veicoli in servizio, senza dimenticare il danno alla reputazione del marchio. Per illustrare questo punto, si immagini una singola ECU composta da 1.000 parti. Se il produttore di ECU tollerasse un tasso di difetti di appena 1 ppm, questa singola ECU da sola sarebbe responsabile di 1.000 guasti in una flotta di 1 milione di veicoli. E secondo un rapporto della società di analisi IHSMarkit, un nuovo veicolo di lusso può contenere fino a 150 ECU.[1] Questo è il motivo per cui l’industria automobilistica si pone l’obiettivodi untassodi difetti pari azero. Lastrategia per conseguire questo obiettivo è applicare un processo di qualificadei componenti, codificatosecondo i vari standard AEC-Q10x. I criteri per la qualifica AEC-Q100, ad esempio, sono estremamente rigidi e verificano l’affidabilità di un componente attraverso una serie di parametri di prova. I principali test di affidabilità sono: • Test di stress ambientale accelerato • Test di simulazione della durata accelerata • Test del package e assemblaggio • Test di fabbricazione del die • Verifica elettrica • Screening dei difetti • Test di integrità del package Questo esaustivo processo di qualifica ha dimostrato di eliminare efficacemente i componenti potenzialmente difettosi. I componenti che superano i test e ottengono la qualifica AEC-Q100 hanno dimostrato un livello notevolmente elevato di affidabilità e integrità in una serie di condizioni ambientali e applicative gravose. Duedei test piùdifficili da superareper ottenere laqualifica AEC-Q100 per i prodotti di storage basati su NAND Flash sono la prova di simulazione ad alta temperatura e quello di durata di vita accelerata. I sistemi di storage devono I criteri per la qualifica dei componenti da utilizzare in ambito automotive sonomolto rigorosi e si pongono l’obiettivo di raggiungere un tasso di difettosità pari a zero

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