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XIV Lighting LIGHTING 24 - NOVEMBRE/DICEMBRE 2020 LIDAR DTOF ON Semiconductor ha introdotto una soluzione LiDAR dTOF (direct ToF) a singolo punto basata sulla tecno- logia SiPM (Silicon Photomultiplier) sviluppata dalla societ à . Le applicazioni dei sistemi LiDAR (Light Detection and Ranging) sono in crescita in tutti i settori, compresa la robotica e il rilevamento di prossimit à in ambito indu- striale, dove è necessario garanti- re livelli di accuratezza dell’ordi- ne del millimetro. Essi utilizzano solitamente la tecnologia dToF (direct Time-of-Flight) che pre- vede la misura del tempo impie- gato da un impulso luminoso, solitamente con lunghezza d’on- da nella regione del vicino infra- rosso (NIR - Near Infrared), per raggiungere un oggetto e tornare alla sorgente. I vantaggi dei sensori SiPM Anche se il principio di funziona- mento è molto semplice, la sua applicazione pratica può compor- tare l’insorgere di problematiche a causa, ad esempio, di fattori ambientali, come nel caso di elevati livelli di luce solare ambientale. Per poter determinare la distanza in manie- ra accurata il ricevitore deve essere in grado di cattura- re la maggior quantit à possibile di segnale riflesso. In situazioni di questo tipo i fotodiodi evidenziano alcune limitazioni in termini di sensibilit à e tempi di risposta. I sensori SiPM (Silicon Photomultiplier) sviluppati da ON Semiconductor permettono di superare queste ca- renze garantendo tempi di risposta rapidi e un’elevata efficienza in fase di rilevamento. La piattaforma di rife- rimento utilizza la serie RB, formata da sensori SiPM di seconda generazione, caratterizzati da prestazioni anco- ra migliori nelle regioni del rosso e del vicino infrarosso. Una soluzione completa La piattaforma LiDAR dToF che utilizza sensori SiPM sviluppata da ON Semiconductor mette a disposizio- ne una soluzione completa per LiDAR a punto singolo a basso costo che gli OEM possono adattare e trasferire in produzione per creare applicazioni industriali di rilevamento della distanza. Essa inclu- de il diodo laser NIR, il sensore SiPM e le ottiche richieste, oltre alle risor- se di elaborazione digitale necessarie per convertire il segnale rilevato in di- stanza sulla base del tempo trascorso. Al fine di ridurre il time-to-market, ON Semiconductor ha reso disponibile tut- ti i dati di progetto relativi alla piatta- forma di riferimento, che comprendo- no schemi circuitali, BoM, file Gerber e file di progetto della scheda PCB. È anche possibile accedere a una GUI ba- sata su PC che rende disponibile una rappresentazione grafica delle misure nel tempo. Gli istogrammi generati rap- presentano un’ulteriore testimonianza delle potenzialit à del sistema in applicazioni quali misura della distanza, rilevamento di collisioni e mappatura tri-dimensionale. La piattaforma LiDAR dToF basata sulla tecnologia SiPM è in grado di rilevare oggetti a distanze comprese tra 10 cm e 23 m. Grazie alla presenza della GUI, i progettisti possono iniziare immediatamente la valutazione della tecnologia. Il progetto è certificato FDA Classe 1 e risulta conforme agli standard IEC / EN 60825-1:2014 e 21 CFR 1040.10/ 1040.11 (in vigore negli Stati Uniti) relative alla sicurezza dei prodotti laser. Soluzione “pronta all’uso” per applicazioni industriali di rilevamento della distanza Il rilevamento della distanza mediante LiDAR dToF soddisfa un’esigenza che risulta critica in molte applicazioni che spaziano dalla navigazione autonoma alla mappatura al monitoraggio Alessandro Nobile La nuova piattaforma LiDAR sfrutta l’approccio dToF (direct ToF) utilizzando il know how acquisito da ON Semiconductor nello sviluppo dei sensori SiPM (Silicon Photomultiplier)