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3D IMAGING Microscopia organica Park Systems è nata nel 1997 in Corea proprio per con- cretizzare le ricerche che i suoi fondatori (Gerd Binnig, Christoph Gerber e Calvin Quate) hanno precedentemen- te condotto per anni alla Stanford University californiana sull’Atomic Force Microscopy. Da quelle ricerche fu svilup- pata la tecnologia True Non-Contact Mode che perfeziona il principio del microscopio a forza atomica senza contatto e consente di eseguire scansioni Non-destructive Sample Scan rilevando le forze atomiche attrattive in modo più efficace. In pochi anni ne sono nate le due evoluzioni più importanti ossia la tecnologia XE-3DM, o 3D AFM per la High Resolution 3D Metrology, e la XE-Bio, o Bio AFM per la Live Cell Imaging tramite la microscopia a scan- sione a conduttanza ionica, Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM). Particolarmente efficace è la SICM effettuabile con gli AFM perché Park Systems ha sviluppa- to e brevettato una tecnologia appositamente pensata per le misure non invasive sulle molecole organiche. In pra- tica, usa una microsonda composta da una micropipetta di vetro al cui interno c’è un microelettrodo. Grazie alla sua composizione bio-compatibile si può immergere nel liquido organico che avvolge la molecola e poi scorrere sopra la superficie molecolare per eseguire la scansione da una distanza prefissata. Il potenziale di campo sul mi- croelettrodo attira un flusso di ioni dall’elettrolita che lo circonda e questa corrente è proporzionale alla distanza a cui si trovano gli atomi del tessuto molecolare sottostante. Se ne rileva così la forma tridimensionale senza influen- zare le interazioni fra gli atomi, il che è particolarmente importante nelle misure biologiche. Grazie a ciò Park Sy- stems ha accumulato un prezioso know-how sullo svilup- po dei microscopi AFM e oggi offre questi strumenti non solo alle industrie di chip a semiconduttore ma anche ai costruttori di attrezzature per il medicale dove l’ispezione tridimensionale a livello nanometrico offre potenzialità diagnostiche inimmaginabili solo due anni fa. L’imaging AFM consente di osservare direttamente l’evolvere dei Nel SICM Module la scansione viene fatta misurando il flusso di ioni proporzionale alla distanza degli atomi dalla sonda