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STORAGE DIGITAL fatti bastare l’estrapolazione di una quantità di dati sufficiente per ottenere una curva ragionevolmente aderente, utilizzando una fun- zione di distribuzione come quella, relativamente semplice, mostrata nella Equazione 1. Dove x è la soglia di tensione, e e µ sono due parametri che con- sentono di adattare la funzione di distribuzione ai dati effettivi carat- terizzati all’interno del dispositivo NAND al passare del tempo. Utiliz- zando questa equazione e Microsoft Excel, è solamente necessario impostare i punti in cui queste curve devono iniziare e terminare, al passare del tempo. La Figura 1 mostra, ad esempio, una NAND MLC (Multi Level Cell), descritta mediante quattro funzioni di probabili- tà. Osservando il settore più a sinistra, la curva blu punteggiata più stretta e alta rappresenta la fase iniziale della vita del dispositivo, cor- rispondente (per la NAND caratterizzata in questo specifico esem- pio) a circa 3.000 cicli. Indipendentemente dal fatto di voler identi- ficare la fase iniziale con 3.000 cicli oppure con 10, essa comunque corrisponde alla prima curva, indicata come Bin 1 . La funzione successiva (linea arancione) mostrata in Figura 1 rap- presenta la fase centrale della vita della NAND, corrispondente for- se a circa 20k cicli di riscrittura, come evidenziato da una funzione avente una forma notevolmente più aperta e scampanata. La terza linea, di colore grigio, mostrata in Fig. 1 rappresenta la fase finale della vita della NAND, intorno ai 40k cicli, che sconfina abbondante- Fig. 1 – Dispositivo MLC con tre distinti livelli di usura per ogni tensione di riferimento 43 - ELETTRONICA OGGI 471 - GIUGNO-LUGLIO 2018