EMB_84
EMBEDDED 84 • MAGGIO • 2022 50 HARDWARE | RADIATED EMISSIONS mente e utilizzata localmente, mentre le apparecchiatu- re del gruppo 1 comprendono tutte le apparecchiature nell’ambito della CISPR 11 che non sono classificate nel gruppo 2. Le apparecchiature del gruppo 1 coprono la gamma di frequenze fra 30 MHz e 1 GHz, mentre le apparecchia- ture del gruppo 2 vanno da 150 kHz a 1 GHz (e fino a 18 GHz se la frequenza di esercizio dell’apparecchia- tura è superiore a 400 MHz). I limiti inferiori a 30 MHz per il gruppo 2, Classe A, si riferiscono alla componente dell’intensità del campo magnetico misurata in decibel microampere per metro. Valori sopra i 30 MHz corri- spondono alla classica misurazione dell’intensità del campo elettrico in decibel microvolt per metro. Ogni gruppo di apparecchiature presenta designazioni di Classe A (non residenziale, industriale, commerciale) e di Classe B (residenziale, consumer) con i relativi li- miti. Poiché i limiti di Classe B coprono gli ambienti re- sidenziali in cui è più probabile che i prodotti si trovino reciprocamente nelle immediate vicinanze (entro 10 m dai ricevitori di trasmissione radio e televisiva), tali limiti sono più rigidi per evitare problemi di interferenza. La Figura 5 mostra le linee limite della CISPR 11 per ap- parecchiature di gruppo 1 e gruppo 2 in un sito di prova con utilizzo di rilevatore QP. La distanza dell’antenna è di 10 m, ad eccezione delle misurazioni del campo ma- gnetico di classe B del gruppo 2, dove è di 3 m. Vedere Fig. 4 – Configurazione di test CISPR 25 per EMI irradiate con antenna a tromba, tra 1 GHz e 2,5 GHz le Tabelle 7 e 8 (gruppo 1) e le Tabelle 10 e 15 (gruppo 2) della norma CISPR 11 per ulteriore contesto. Sono pre- visti limiti anche per le apparecchiature misurate in situ: vedere le Tabelle 16 e 17 della CISPR 11 rispettivamente per il gruppo 1 Classe A e per il gruppo 2 Classe A. Le apparecchiature di Classe A possono essere misurate su un sito di test standardizzato (laboratorio) o nel suo luogo di esercizio (in situ), a seconda delle preferenze del produttore. Le apparecchiature di Classe B vengo- no misurate solo su un sito di test. Le apparecchiatu- re di Classe A in un sito di test utilizzano una distanza nominale dell’antenna di 3 m, 10 m o 30 m (e sebbene non siano specificati i limiti di test per le apparecchia- ture del gruppo 1 a una distanza di separazione di 30 m, si applica un fattore di proporzionalità inversa di 20 dB per decade al fine di normalizzare i dati misurati alla distanza specificata per determinare la conformità). Le apparecchiature di Classe B utilizzano una distanza di 3 m o 10 m. Nell’intervallo di frequenza fra 30 MHz e 1 GHz è con- sentita una distanza di misurazione di 3 m per appa- recchiature di piccole dimensioni che si adattano a un volume di test cilindrico di 1,2 m di diametro e 1,5 m di altezza dal suolo. La Figura 6 mostra una disposizione di questo tipo per una EUT da banco centrata sull’asse verticale della tavola girevole. Le apparecchiature peri- feriche che non si adattano al volume di test vengono omesse dalle misurazioni o disaccoppiate dall’ambiente di test. In un sito di test, l’antenna deve essere sollevata e ab- bassata fra 1 m e 4 m nell’intervallo di frequenza fra 30 MHz e 1 GHz. Per misurare i prodotti in situ, il centro dell’antenna è fissato a 2 m dal terreno. La Figura 7 mo- stra una tipica configurazione di test unificata per appa- recchiature a pavimento, adatta per la misurazione dei disturbi irradiati (e condotti). È raffigurato il posiziona- mento dell’EUT, delle apparecchiature associate (AE), dei dispositivi di assorbimento di modo comune (CMAD) e delle reti di linea artificiale (AMN). Per le misurazioni in un sito di test, l’altezza del centro dell’antenna varia fra 1 m e 4 m per la massima indica- zione a ciascuna frequenza di test. Per le misurazioni in situ, il centro dell’antenna è fissato a un’altezza di 2 m dal suolo. 3 MIL-STD-461 (RE101 e RE102) Il test RE101 è piuttosto specializzato ed è pensato per il controllo di campi magnetici fra 30 Hz e 100 kHz in applicazioni in cui un’apparecchiatura si trova in un’in- stallazione potenzialmente sensibile all’induzione ma-
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