Advantest ha annunciato lo sviluppo di un sistema di tomografia TeraHertz a ‘tempo di volo’ (TOF) che utilizza onde THz a brevi impulsi e a banda larga. Il nuovo sistema esegue immagini e analisi di rivestimenti multistrato di spessore fino a 10 μm, permettendo di analizzare i film di elettrodi nelle batterie agli ioni di litio e la vernice multistrato nel settore automobilistico, oltre a numerose altre nuove applicazioni.
Il sistema di tomografia impiega una fonte di radiazione THz di Cherenkov*1 che sfrutta cristalli non lineari (LiNbO³;LN)*2. Il metodo di sincronismo di fase di Cherenkov, basato su una lente al silicio sviluppata da Advantest, permette di generare impulsi e pseudo-monoimpulsi ad onde corte THz, non generabili con elementi fotoconduttivi, ideali per l’analisi dei segnali riflessi. Tale funzione permette di implementare analisi d’immagini senza contatto fino allo spessore più sottile attualmente usato nell’ industria, che e’ di soli 10 μm.
Dopo l’introduzione di un primo sistema di imaging 3D basato sulla tecnologia TeraHertz, Advantest ha ampliato la famiglia di prodotti con soluzioni di analisi non distruttiva e senza contatto per i prodotti in ceramica ed in ambito farmaceutico. Il sistema applica la tecnologia THz all’analisi dei film di elettrodi nelle batterie agli ioni di litio, della vernice multistrato utilizzata nel settore automobilistico e di altre applicazioni che non sono coperte dai tradizionali sistemi di analisi a infrarossi e ultrasuoni.
Infine Advantest sta portando avanti lo sviluppo della tecnologia di analisi al fine di offrire soluzioni ottimali per il controllo di campioni con strutture interne più complesse e con funzionalità più avanzate.