Advantest ha presentato la generazione Wave Scale di schede per la piattaforma V93000, che garantisce livelli inediti di parallelismo e produttività nel collaudo di circuiti integrati a radiofrequenza (RF) e a segnale misto per le comunicazioni wireless. Progettate per il collaudo multisito ad elevato parallelismo e test in parallelo in-site, le nuove schede V93000 Wave Scale RF e V93000 Wave Scale MX abbattono il costo di collaudo e il time-to-market per i moderni semiconduttori RF, creando le premesse per il collaudo dei futuri dispositivi 5G.
Le nuove schede sono pensate per i segmenti di mercato della comunicazione RF e wireless, in quanto offrono soluzioni di collaudo altamente efficienti per i semiconduttori di smartphone LTE, LTE-Advanced e LTE-A Pro, nonché applicazioni LTE-M, WLAN, GPS, ZigBee, Bluetooth e IoT. Le nuove schede sono in grado di rispondere alle attuali esigenze del mercato e tengono conto dei progressi tecnologici previsti per le reti 5G.
Le schede V93000 Wave Scale presentano un’architettura avanzata rispetto all’attuale offerta del mercato. Le soluzioni tradizionali di collaudo RF effettuano il test multisito per i dispositivi RF, quali quad ed octal-site, ma gestiscono uno standard RF per sito alla volta. Le schede Wave Scale RF e le corrispondenti schede Wave Scale MX sono in grado di collaudare contemporaneamente più standard o più path all’interno di ogni dispositivo RF, a garanzia di parallelismo in-site ed elevata efficienza multisito riducendo sensibilmente il costo di collaudo di tali dispositivi RF complessi.