Advantest: per il tester T2000 il modulo generatore di forme d’onda 8Gsps / digitalizzatore 8GHz per testare i circuiti SoC analogici e a segnale misto

Pubblicato il 6 agosto 2013

Advantest Corporation ha presentato il nuovo strumento T2000 8GWGD, che integra un generatore di forme d’onda con una frequenza di campionamento di 8 Gsps (giga-samples-per-second) e un digitalizzatore da 8 GHz per il test di dispositivi SoC (System On Chip) utilizzati nei dispositivi di memoria di massa, fra cui anche i dischi rigidi (HDD).

La piattaforma T2000, configurata con l’8GWGD (8Gsps Waveform Generator / 8GHz Digitizer Module) e con l’8GDM (8Gbps Digital Module), può collaudare le interfacce PHY-layer ad alta frequenza SerDes (SERializer/DESerializer) e le forme d’onda analogiche ad alta velocità tipiche dei dispositivi SoC per memoria di massa.

Servendosi di un generatore di forma d’onda arbitrario (AWG), il nuovo modulo Advantest è in grado di originare segnali complessi come le forme d’onda PRML (Partial Response Maximum Likelihood) e multitono, con un’ampia gamma di frequenze per i convertitori analogico/digitale ad alta velocità e per i dispositivi front-end analogici, compresi i preamplificatori. Una caratteristica unica è il gate di output, usato per sincronizzarsi con l’AWG in modo di ottenere una temporizzazione molto accurata.

Il nuovo digitalizzatore per l’acquisizione dei segnali è in grado di migliorare la produttività e contemporaneamente effettuare misure analogiche con larghezze di banda elevate. Propone inoltre soluzioni di test per diagramma a occhio (eye-diagram), tempo di salita/discesa (rise/fall timing), del ritardo di propagazione e del jitter sia ciclo per ciclo che nel lungo periodo. In questo modo, è possibile testare i convertitori digitale/analogico ad alta velocità e i preamplificatori, oltre che dispositivi con interfaccia digitale ad alta velocità e i circuiti PLL (Phase-Locked Loop).



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