Advantest Corporation ha annunciato la disponibilità del sistema MPT3000ARC per il collaudo e il debug di unità a stato solido (SSD). Questo nuovo sistema potenzia infatti la piattaforma MPT3000 con funzionalità di collaudo in condizioni termiche estreme degli SSD.
MPT3000ARC è una soluzione completamente integrata in grado di operare in un ampio intervallo di temperature per sottoporre a test gli SSD impiegati in applicazioni sempre più diffuse, come per esempio i dispositivi connessi delle smart car oppure l’elettronica indossabile.
La versatilità del sistema MPT3000ARC garantisce la compatibilità, tramite schede d’interfaccia sostituibili e personalizzabili, con numerosi fattori di forma degli SSD, dalle memorie M.2 da 40 mm ai dispositivi basati su EDSFF di dimensioni maggiori.
L’integrazione della camera termica ad ampio intervallo di temperature rende la soluzione molto interessante per le verifiche RDT (reliability demonstration test) e per il collaudo di SSD in ambienti di produzione in volumi, grazie anche alla compatibilità ergonomica e all’accesso alla camera predisposto per l’automazione.