Advantest ha presentato le sue più recenti soluzioni al SEMICON West 2025 di Phoenix, in Arizona. Il particolare, l’azienda ha parteciapro con il suo portafoglio di tecnologie di test per applicazioni come intelligenza artificiale e calcolo ad alte prestazioni (HPC), 5G, automotive e memorie.
Sono state presentate le soluzioni di test per dispositivi AI/HPC, tra cui il sistema di test SoC V93000 EXA Scale, il die-level handler HA1200 con la tecnologia di controllo termico attivo e il sistema di test DRAM ad altissima velocità T5801, progettato per supportare i più recenti progressi nelle tecnologie di memoria ad alta velocità, tra cui GDDR7, LPDDR6 e DDR6.
SiConic, invece, è una soluzione scalabile per la convalida automatizzata del silicio. SiConic è destinata agli ingegneri focalizzati sulla verifica della progettazione e la convalida del silicio ed è stata progettata per affrontare la crescente complessità dei sistemi su chip (SoC) avanzati.
Il nuovo Single Test Rack (STR) 7038, invece, offre soluzioni a livello di sistema e burn-in a costi competitivi e ingombri ridotti. ACS Real-Time Data Infrastructure (ACS RTDI) è una piattaforma di soluzioni che automatizza il processo di conversione delle informazioni in fasi di produzione attuabili all’interno dello stesso inserimento di test in millisecondi, ottimizzando la resa, migliorando la qualità e riducendo il time-to-market.
Sono stati presentati inoltre anche le apparecchiature di test per semiconduttori di potenza di CREA (azienda del Gruppo Advantest) per un’ampia varietà di dispositivi di potenza, inclusi test di potenza su SiC e GaN su wafer, single-die, substrati, PKG e moduli, utilizzati in applicazioni industriali e automobilistiche, ma anche i sistemi di test SoC T2000 con Rapid Development Kit (RDK) per tutti i SoC, inclusi quelli analogici per automotive e potenza, e soluzioni di test IP Engine 4A per una elaborazione delle immagini più rapida.