L’Università di Tsinghua sceglie i tester di Advantest per la formazione

In Cina l’Università Tsinghua sceglie i tester di memorie a semiconduttore T5830ES e T5833ES di Advantest per la formazione degli studenti.

Il prestigioso istituto accademico cinese implementerà i sistemi di Advantest come piattaforme uniche di sviluppo della tecnologia delle memorie

La transazione è avvenuta in occasione della recente trattativa tra Advantest e il prestigioso ateneo cinese. I sistemi saranno installati presso il Dipartimento di Microelettronica e Nanoelettronica dell’università, dove esperti nella progettazione di chip mostreranno agli studenti i processi di collaudo di dispositivi di memoria flash NOR che impiegano il protocollo SPI (Serial Peripheral Interface), sempre più diffusi in applicazioni come display ed elettronica mobile.

“Siamo orgogliosi di consolidare la nostra partnership con l’Università Tsinghua, un istituto che svolge un ruolo importante nell’ecosistema dei semiconduttori in Cina, offrendo visibilità al potenziale dei nostri tester per le case di progettazione cinesi” spiega Xu Yong, CEO di Advantest China. “Le nostre soluzioni di test per memorie avanzate sono implementate sull’intero territorio cinese con l’obiettivo di soddisfare le esigenze dei mercati in forte crescita come l’Internet of Things e le smart card”.

Il tester di memorie T5830ES è un sistema ottimizzato per il collaudo economicamente vantaggioso di una vasta gamma di dispositivi di memoria flash. Questa piattaforma versatile è progettata per offrire un elevato ritorno sull’investimento (ROI) riducendo l’esposizione degli utenti al rischio finanziario. Permette di gestire velocità di trasferimento dati fino a 800 megabit al secondo (Mbps).

L’architettura integrata e scalabile degli alimentatori programmabili ad elevata corrente (PPS) permette al sistema di eseguire sia wafer sort che final test per memorie flash richiedenti sia un alto che un basso numero di pin digitali. Come altri componenti della famiglia di prodotto T5800, il sistema integra l’innovativo design Tester-per-Site™ di Advantest, attraverso il quale ogni sito di test può operare in maniera indipendente garantendo tempi di test rapidi e riduzione del costo di collaudo complessivo. Il sistema è inoltre valorizzato dal software FutureSuite™ ai fini di una maggiore affidabilità e capacità di upgrade.

La stazione di progettazione multifunzionale T5833ES di Advantest offre capacità di wafer sort e di final test per una gamma completa di circuiti integrati di memorie, tra cui LPDDR3-DRAM, dispositivi NAND flash ad alta velocità e memorie non volatili di nuova generazione. Oltre a supportare i test Known Good Die (KGD) a velocità fino a 2,4 gigabit al secondo (Gbps), il T5833ES dispone anche di un’architettura CPU flessibile dotata di più CPU per il controllo ottimizzato dei processi di test.

Il sistema offre capacità all’avanguardia nell’individuazione degli indirizzi non funzionanti e nell’analisi dei guasti ad elevata velocità, dette anche “ridondanza della memoria”. Entrambe le operazioni sono scalabili, con l’aggiunta di più CPU per i calcoli.

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