Keysight collabora con i principali centri di ricerca

Pubblicato il 13 febbraio 2018

Misurare i rumori con precisione nei nuovi dispositivi elettronici da utilizzare in IoT, 5G. Questo è lo scopo della collaborazione di Keysight Technology con i principali centri di ricerca.

Il rumore è uno dei principali fattori limitanti nei dispositivi elettronici, incluse le parti sensibili come sensori e memorie. Di conseguenza, la capacità di monitorare il rumore utilizzando un approccio statistico su di un numero elevato di campioni e dispositivi diversi è più critica che mai.

“Dall’introduzione dell’analizzatore avanzato di rumore a bassa frequenza, Keysight si è attivamente impegnata con centri di ricerca di fama mondiale nel campo delle misurazioni del rumore”, afferma Cédric Pujol, EEsof EDA device modeling business development manager di Keysight. “Queste collaborazioni hanno spinto i nostri sviluppi in un’ampia gamma di applicazioni, consentendo all’analizzatore di aumentare la sua versatilità nelle misurazioni del rumore flicker (1/f)e del rumore burst (random Telegraph noise) e hanno contribuito a rafforzare l’uso dell’analizzatore per i dispositivi utilizzati nell’elettronica industriale e nel 5G e Dispositivi IoT”.

Nuove soluzioni

La pietra miliare della collaborazione di Keysight con i centri di ricerca, come  l’università svedese di Chalmers, il  Fraunhofer EMFT in Germania,  l’IMEC in Belgio e i LAAS-CNRS in Francia, è l’aggiunta del software WaferPro Express, un framework di misurazioni che beneficia dell’esperienza pluriennale di Keysight nella modellazione di dispositivi. Keysight A-LFNA offre ora ai progettisti la flessibilità di trasformare le loro misure del rumore a bassa frequenza in modelli matematici.

I risultati derivanti dalla collaborazione in corso includono un’estensione dell’A-LFNA per consentire misurazioni del rumore su sensori CMOS fino a frequenze ultra-basse (0,030 Hz) e su dispositivi di potenza con una tensione di polarizzazione da 200 V. A supporto delle tecnologie bulk silicon e silicio su isolanti (SOI – silicon on insulator), l’A-LFNA ora misura anche un rumore di fondo all’avanguardia (2E-27 A2 / Hz). Inoltre, è stato aggiornato per misurare la densità del rumore fino a 40 MHz.

“Sono lieto che il sistema di misura 1/f di Keysight e più in generale il portafoglio di dispositivi di Keysight soddisfi le esigenze dei principali centri di ricerca in Europa”, dice  Thierry Locquette, responsabile vendite EMEAI di Keysight EDA. “La combinazione di una soluzione all’avanguardia con un forte supporto locale è un significativo elemento di differenziazione”.

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